跳至 : 概要 | 書目資訊 | 主題

Wang, Laung-Terng.

概要
作品: 1 作品在 0 項出版品 0 種語言
書目資訊
System-on-chip test architectures :nanometer design for testability / by: Stroud, Charles E. ; Touba, Nur A. ; Wang, Laung-Terng. (書目-語言資料,印刷品)
 
 
變更密碼
登入