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Langenkamp, Martin.

概要

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書目資訊

Lock-in thermographybasics and use for evaluating electronic devices and materials / by: Breitenstein, Otwin.; Langenkamp, Martin.; SpringerLink (Online service); Warta, Wilhelm. (書目-電子資源)

主題

Thermography. Electronic apparatus and appliances Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices. Structural Materials. Semiconductors Physics. Characterization and Evaluation of Materials. Engineering, general.

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