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Rong, Yonghua.

概要

作品:	2 作品在 1 項出版品 1 種語言

書目資訊

Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM) by: Rong, Yonghua.; SpringerLink (Online service) (書目-電子資源)

主題

Nanostructured materials Electron microscopy. Condensed Matter Physics. Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices. Materials Science. Characterization and Evaluation of Materials.

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