語系
盧天富
概要
| 作品: | 2 作品在 1 項出版品 1 種語言 | |
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書目資訊
封裝產品於ESD/EOS破壞後之失效分析 = Failure Analysis on Packaged IC with ESD/EOS Damage
by:
國立高雄大學電機工程學系--先進電子構裝技術產業研發碩士專班; 盧天富
(書目-語言資料,印刷品)
, [撰]