語系
陳育正
概要
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書目資訊
應用六標準差方法改善積體電路成品測試良率 = Using Six Sigma Methodology to Improve Integrated Circuit Final Test Yield
by:
國立高雄大學電機工程學系碩博士班; 陳育正
(書目-語言資料,印刷品)
, [撰]