語系
林孟琰
概要
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書目資訊
功函數對於多鰭數p-FinFET之電性分析及NBTI可靠度研究 = The Device Performance and Reliability of Negative-bias Temperature Instability of multi-fin p-FinFET with Different Work Functions
by:
國立高雄大學電機工程學系碩博士班; 林孟琰
(書目-語言資料,印刷品)
, [撰]
主題