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主題
方振宇
概要
作品:
2 作品在 1 項出版品 1 種語言
書目資訊
快速熱退火及不同鰭寬度的NCFET 之電性分析及HCI可靠度研究 = The Impact of RTA and Different Fin Widths on the Device Performance and Reliability of NCFET
by: 國立高雄大學電機工程學系碩博士班; 方振宇
(書目-語言資料,印刷品)
, [撰]
主題
負電容場效電晶體
NCFET
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