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主題
李芳議
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1 作品在 1 項出版品 1 種語言
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快速熱退火與氟離子電漿對不同鰭寬度的鐵電場效電晶體之電性分析及HCI可靠度研究 = The Impact of RTA and Fluorine Plasma Treatment on the Device Performance and HCI Reliability of FeFET with different fin widths
by: 國立高雄大學電機工程學系碩博士班; 李芳議
(書目-語言資料,印刷品)
, [撰]
主題
FeFET
介面層缺陷
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