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吳奕頡
概要
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書目資訊
Al/SiO2/Si元件絕緣層厚度對光電流特性影響之研究 = The Dependence of the Photo Current of the Al/SiO2/Si MIS Device on the Thickness of the Dielectric Layer
by:
吳奕頡; 國立高雄大學電機工程學系碩博士班
(書目-語言資料,印刷品)
, [撰]
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