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專利侵害鑑定理論 = Theories in patent infringement assessment
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Theories in patent infringement assessment
作者:
洪瑞章,
其他團體作者:
國立臺灣大學
出版地:
臺北市
出版者:
經濟部智慧局;
出版年:
2007[民96]
版本:
二版
面頁冊數:
[8], 176面圖，表 : 21公分;
集叢名:
智慧財產培訓學院教材16
標題:
專利 - 法規論述 -
附註:
參考書目：面171-174
附註:
含附錄
ISBN:
986-00-7696-0
專利侵害鑑定理論 = Theories in patent infringement assessment
洪, 瑞章
專利侵害鑑定理論
= Theories in patent infringement assessment / 洪瑞章作 ; 國立臺灣大學科際整合法律學研究所編印 - 二版. - 臺北市 : 經濟部智慧局, 2007[民96]. - [8], 176面 ; 圖，表 ; 21公分. - (智慧財產培訓學院教材 ; 16).
參考書目：面171-174含附錄.
ISBN 986-00-7696-0ISBN 978-986-00-7696-7
專利 -- 法規論述
專利侵害鑑定理論 = Theories in patent infringement assessment
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東方語文圖書區(五樓)
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一般圖書
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