管制圖的偏態與峰態修正法之改善與多品質特性製程能力指標之研究 = Imp...
國立高雄大學統計學研究所

 

  • 管制圖的偏態與峰態修正法之改善與多品質特性製程能力指標之研究 = Improvement of Skewness and Kurtosis Correction Method for Control Charts and a Study of Process Capability Measures with Multiple Characteristics
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: Improvement of Skewness and Kurtosis Correction Method for Control Charts and a Study of Process Capability Measures with Multiple Characteristics
    作者: 徐文隆,
    其他團體作者: 國立高雄大學
    出版地: [高雄市]
    出版者: 撰者;
    出版年: [民99]2010
    面頁冊數: 46面圖,表 : 30公分;
    標題: 峰態
    標題: kurtosis
    電子資源: http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/00800436332948869179
    摘要註: 在本論文中,我們將對管制圖及製程能力指標進行探討。在第一章中,我們改進Wang(2009)所提出的偏態與峰態修正(SKC)法,經由調整SKC管制界限的偏態與峰態函數建立一改良的偏態與峰態修正(MSKC)管制圖。從模擬結果得知,我們所提出的MSKC方法與SKC和其他方法比較,有更好的表現。而在第二章中,我們則提出一個新的製程能力指標,以評估具有多個子製程與多品質特性的製程之製程能力,這些製程能力指標是Chen et al. (2003)和Chen et al. (2006)的推廣,並可運用在更實際的狀況。 In this paper, the control charts and process capability indices will be investigated. In Chapter 1, we improve the skewness and kurtosis correction (SKC) method proposed by Wang (2009). The modi?ed skewness and kurtosis correction (MSKC) control charts are constructed by adjusting the functions of skewness and kurtosis of SKC control limits. Simulation results show that the performance of the proposed MSKC method is better than those of SKC method and some other methods. In Chapter 2, we propose the process capability indices to evaluate the processes with multi-subprocesses and multi-characteristics in each subprocess. These process capability indices, extending those discussed in Chen et al. (2003) and Chen et al. (2006), can be used in more practical situations.
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  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
310002025818 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 343201 2807 2010 一般使用(Normal) 在架 0
310002025826 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 343201 2807 2010 c.2 一般使用(Normal) 在架 0
  • 2 筆 • 頁數 1 •
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