Lock-in thermographybasics and use f...
Breitenstein, Otwin.

 

  • Lock-in thermographybasics and use for evaluating electronic devices and materials /
  • 紀錄類型: 書目-電子資源 : Monograph/item
    正題名/作者: Lock-in thermographyby Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C. Schubert.
    其他題名: basics and use for evaluating electronic devices and materials /
    作者: Breitenstein, Otwin.
    其他作者: Warta, Wilhelm.
    出版者: Cham :Springer International Publishing :2018.
    面頁冊數: xxi, 321 p. :ill. (some color), digital ;24 cm.
    Contained By: Springer eBooks
    標題: Electronic apparatus and appliancesThermal properties.
    電子資源: https://doi.org/10.1007/978-3-319-99825-1
    ISBN: 9783319998251$q(electronic bk.)
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  • 1 筆 • 頁數 1 •
 
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