功函數對於多鰭數p-FinFET之電性分析及熱載子效應可靠度研究 = T...
國立高雄大學電機工程學系碩博士班

 

  • 功函數對於多鰭數p-FinFET之電性分析及熱載子效應可靠度研究 = The Device Performance and Reliability of Hot Carrier Injection of multi-fin with Different Work Functions
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: The Device Performance and Reliability of Hot Carrier Injection of multi-fin with Different Work Functions
    作者: 林煒得,
    其他團體作者: 國立高雄大學
    出版地: 高雄市
    出版者: 國立高雄大學;
    出版年: 2019[民108]
    面頁冊數: 61葉部分彩圖 : 30公分;
    標題: 三閘極鰭式場效電晶體
    標題: FinFET
    電子資源: http://handle.ncl.edu.tw/11296/995svn
    附註: 108年10月31日公開
    附註: 參考書目: 葉49-51
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
310002873837 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4492 2019 一般使用(Normal) 在架 0
310002873845 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4492 2019 c.2 一般使用(Normal) 在架 0
  • 2 筆 • 頁數 1 •
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