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功函數對於多鰭數p-FinFET之電性分析及熱載子效應可靠度研究 = T...
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國立高雄大學電機工程學系碩博士班
功函數對於多鰭數p-FinFET之電性分析及熱載子效應可靠度研究 = The Device Performance and Reliability of Hot Carrier Injection of multi-fin with Different Work Functions
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
The Device Performance and Reliability of Hot Carrier Injection of multi-fin with Different Work Functions
作者:
林煒得,
其他團體作者:
國立高雄大學
出版地:
高雄市
出版者:
國立高雄大學;
出版年:
2019[民108]
面頁冊數:
61葉部分彩圖 : 30公分;
標題:
三閘極鰭式場效電晶體
標題:
FinFET
電子資源:
http://handle.ncl.edu.tw/11296/995svn
附註:
108年10月31日公開
附註:
參考書目: 葉49-51
功函數對於多鰭數p-FinFET之電性分析及熱載子效應可靠度研究 = The Device Performance and Reliability of Hot Carrier Injection of multi-fin with Different Work Functions
林, 煒得
功函數對於多鰭數p-FinFET之電性分析及熱載子效應可靠度研究
= The Device Performance and Reliability of Hot Carrier Injection of multi-fin with Different Work Functions / 林煒得撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2019[民108]. - 61葉 ; 部分彩圖 ; 30公分.
108年10月31日公開參考書目: 葉49-51.
三閘極鰭式場效電晶體FinFET
功函數對於多鰭數p-FinFET之電性分析及熱載子效應可靠度研究 = The Device Performance and Reliability of Hot Carrier Injection of multi-fin with Different Work Functions
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指導教授: 葉文冠博士
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熱載子注入
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接觸蝕刻停止層
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介面層缺陷
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耦合效應
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博碩士論文區(二樓)
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博碩士論文區(二樓)
不外借資料
學位論文
TH 008M/0019 542201 4492 2019
一般使用(Normal)
在架
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博碩士論文區(二樓)
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