國立高雄大學圖資館 |

語系: 繁體中文

登入

回首頁

切換: 標籤 | MARC模式 | ISBD

堆疊式金屬閘極鰭式電晶體的電性特性與可靠度分析 = Characteri...

國立高雄大學電機工程學系碩博士班

堆疊式金屬閘極鰭式電晶體的電性特性與可靠度分析 = Characteristics and reliabilities of stacked metal gate FinFET

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Characteristics and reliabilities of stacked metal gate FinFET
作者:	許竣皓,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	國立高雄大學;
出版年:	2020[民109]
面頁冊數:	[7]，47葉圖 : 30公分;
標題:	堆疊式金屬閘極鰭式電晶體
標題:	Stacked metal gate FinFET
電子資源:	https://handle.ncl.edu.tw/11296/qey62z
附註:	109年11月18日公開
附註:	參考書目：葉37-39

堆疊式金屬閘極鰭式電晶體的電性特性與可靠度分析 = Characteristics and reliabilities of stacked metal gate FinFET
許, 竣皓

堆疊式金屬閘極鰭式電晶體的電性特性與可靠度分析 = Characteristics and reliabilities of stacked metal gate FinFET / 許竣皓撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2020[民109]. - [7]，47葉 ; 圖 ; 30公分.
109年11月18日公開參考書目：葉37-39.
堆疊式金屬閘極鰭式電晶體Stacked metal gate FinFET

堆疊式金屬閘極鰭式電晶體的電性特性與可靠度分析 = Characteristics and reliabilities of stacked metal gate FinFET
LDR:01141pam0a2200265 450 001 573208
005 20201124102515.0
010 0 $b 精裝
010 0 $b 平裝
100 $a 20200928y2020 k y0chiy50 e
101 0 $a chi $d chi $d eng
102 $a tw
105 $a a am 000yy
200 1 $a 堆疊式金屬閘極鰭式電晶體的電性特性與可靠度分析 $d Characteristics and reliabilities of stacked metal gate FinFET $z eng $f 許竣皓撰
210 $a 高雄市 $c 國立高雄大學 $d 2020[民109]
215 0 $a [7]，47葉 $c 圖 $d 30公分
300 $a 109年11月18日公開
300 $a 參考書目：葉37-39
314 $a 指導教授：張文騰博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩博士班
510 1 $a Characteristics and reliabilities of stacked metal gate FinFET $z eng
610 # 0 $a 堆疊式金屬閘極鰭式電晶體 $a 熱載子注入 $a 負偏壓溫度不穩定 $a 介面層缺陷
610 # 1 $a Stacked metal gate FinFET $a Hot Carrier Injection $a NBT $a Interface Defect
681 $a 008M/0019 $b 542201 0802.2 $v 2007年版
700 1 $a 許 $b 竣皓 $4 撰 $3 860503
712 0 2 $a 國立高雄大學 $b 電機工程學系碩博士班 $3 769000
801 0 $a tw $b NUK $c 20201020 $g CCR
856 7 # $u https://handle.ncl.edu.tw/11296/qey62z $z 電子資源 $2 http