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基於加一電路之自我修復進位選擇加法器設計 = The Design of...

國立高雄大學電機工程學系碩博士班

基於加一電路之自我修復進位選擇加法器設計 = The Design of Self-Repair Carry-Select Adder Based on Add-One Circuit

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	The Design of Self-Repair Carry-Select Adder Based on Add-One Circuit
作者:	洪睿彣,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	國立高雄大學;
出版年:	2021[民110]
面頁冊數:	[10]，59葉圖，表 : 30公分;
標題:	高可靠度
標題:	High Reliability
電子資源:	https://handle.ncl.edu.tw/11296/uam4f4
附註:	110年5月1日公開
附註:	參考書目：葉45-48

基於加一電路之自我修復進位選擇加法器設計 = The Design of Self-Repair Carry-Select Adder Based on Add-One Circuit
洪, 睿彣

基於加一電路之自我修復進位選擇加法器設計 = The Design of Self-Repair Carry-Select Adder Based on Add-One Circuit / 洪睿彣撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2021[民110]. - [10]，59葉 ; 圖，表 ; 30公分.
110年5月1日公開參考書目：葉45-48.
高可靠度High Reliability

基於加一電路之自我修復進位選擇加法器設計 = The Design of Self-Repair Carry-Select Adder Based on Add-One Circuit
LDR:01172pam0a2200265 450 001 584912
005 20211103112500.0
010 0 $b 平裝
010 0 $b 精裝
100 $a 20210309y2021 k y0chiy50 e
101 0 $a chi $d chi $d eng
102 $a tw
105 $a ak am 000yy
200 1 $a 基於加一電路之自我修復進位選擇加法器設計 $d The Design of Self-Repair Carry-Select Adder Based on Add-One Circuit $z eng $f 洪睿彣撰
210 $a 高雄市 $c 國立高雄大學 $d 2021[民110]
215 0 $a [10]，59葉 $c 圖，表 $d 30公分
300 $a 110年5月1日公開
300 $a 參考書目：葉45-48
314 $a 指導教授：洪進華博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩博士班
510 1 $a The Design of Self-Repair Carry-Select Adder Based on Add-One Circuit $z eng
610 # 0 $a 高可靠度 $a 加一電路 $a 完全自我檢查加法器 $a 自我修復電路 $a 進位選擇加法器
610 # 1 $a High Reliability $a Add-One Circuit $a Self-checking Full Adder $a Self-repair $a Carry-select Adder
681 $a 008M/0019 $b 542201 3420 $v 2007年版
700 1 $a 洪 $b 睿彣 $4 撰 $3 875684
712 0 2 $a 國立高雄大學 $b 電機工程學系碩博士班 $3 769000
801 0 $a tw $b NUK $c 20210318 $g CCR
856 7 # $u https://handle.ncl.edu.tw/11296/uam4f4 $z 電子資源 $2 http