應用精實六標準差探討半導體封裝製程的改善與優化 = Applying L...
周珮毓

 

  • 應用精實六標準差探討半導體封裝製程的改善與優化 = Applying Lean Six Sigma to Study the Improvement and Optimization of Semiconductor Packaging Process : 以P公司為例; The Case of the P Company
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: Applying Lean Six Sigma to Study the Improvement and Optimization of Semiconductor Packaging Process
    副題名: 以P公司為例
    作者: 周珮毓,
    其他團體作者: 國立高雄大學
    出版地: 高雄市
    出版者: 國立高雄大學;
    出版年: 2021[民110]
    面頁冊數: [8],88葉圖,表 : 30公分;
    標題: 六標準差
    標題: Six Sigma
    電子資源: https://hdl.handle.net/11296/43dtu4
    附註: 110年12月1日公開
    附註: 參考書目:葉74-79
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
310002982737 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 343425 7718 2021 一般使用(Normal) 在架 0
310002982745 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 343425 7718 2021 c.2 一般使用(Normal) 在架 0
  • 2 筆 • 頁數 1 •
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