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應用深度學習影像辨識技術於半導體封裝之自動化測量平台探針控制之研究 = ...

國立高雄大學電機工程學系碩博士班

應用深度學習影像辨識技術於半導體封裝之自動化測量平台探針控制之研究 = Applying Vision-based Deep Learning Techniques to Probe Control of Radio Frequency Signal Measurement for Semiconductor Packaging and Testing

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Applying Vision-based Deep Learning Techniques to Probe Control of Radio Frequency Signal Measurement for Semiconductor Packaging and Testing
作者:	張育仁,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	國立高雄大學;
出版年:	2021[民110]
面頁冊數:	vii,56葉圖，表 : 30公分;
標題:	自動化量測平台
標題:	probe control
電子資源:	https://hdl.handle.net/11296/vjfsca
附註:	110年12月1日公開
附註:	參考書目：葉42-47

應用深度學習影像辨識技術於半導體封裝之自動化測量平台探針控制之研究 = Applying Vision-based Deep Learning Techniques to Probe Control of Radio Frequency Signal Measurement for Semiconductor Packaging and Testing
張, 育仁

應用深度學習影像辨識技術於半導體封裝之自動化測量平台探針控制之研究 = Applying Vision-based Deep Learning Techniques to Probe Control of Radio Frequency Signal Measurement for Semiconductor Packaging and Testing / 張育仁撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2021[民110]. - vii,56葉 ; 圖，表 ; 30公分.
110年12月1日公開參考書目：葉42-47.
自動化量測平台probe control

應用深度學習影像辨識技術於半導體封裝之自動化測量平台探針控制之研究 = Applying Vision-based Deep Learning Techniques to Probe Control of Radio Frequency Signal Measurement for Semiconductor Packaging and Testing
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300 $a 參考書目：葉42-47
314 $a 指導教授：吳志宏博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩博士班
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610 # 1 $a probe control $a signal measurement $a semiconductor package $a image recognition $a deep learning
681 $a 008M/0019 $b 542201 1102 $v 2007年版
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