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溫度對於Al/SiO2/Si MIS元件之光電特性影響探討 = The ...

吳彥儒

溫度對於Al/SiO2/Si MIS元件之光電特性影響探討 = The Study of Temperature Effect on the Photoelectric Properties of the Al/SiO2/Si MIS Device

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	The Study of Temperature Effect on the Photoelectric Properties of the Al/SiO2/Si MIS Device
作者:	吳彥儒,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	國立高雄大學;
出版年:	2023[民112]
面頁冊數:	xiv,92面圖,表 : 30公分;
標題:	電子束蒸鍍
標題:	electron beam evaporation
電子資源:	https://handle.ncl.edu.tw/11296/nw3uzx
附註:	112年12月1日公開
附註:	參考書目: 面90-92

溫度對於Al/SiO2/Si MIS元件之光電特性影響探討 = The Study of Temperature Effect on the Photoelectric Properties of the Al/SiO2/Si MIS Device
吳, 彥儒

溫度對於Al/SiO2/Si MIS元件之光電特性影響探討 = The Study of Temperature Effect on the Photoelectric Properties of the Al/SiO2/Si MIS Device / 吳彥儒撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2023[民112]. - xiv,92面 ; 圖,表 ; 30公分.
112年12月1日公開參考書目: 面90-92.
電子束蒸鍍electron beam evaporation

溫度對於Al/SiO2/Si MIS元件之光電特性影響探討 = The Study of Temperature Effect on the Photoelectric Properties of the Al/SiO2/Si MIS Device
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300 $a 參考書目: 面90-92
314 $a 指導教授: 施明昌博士
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