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模擬無接面環繞式閘極電晶體相同截面積下不同長寬表現差異 = Simula...
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國立高雄大學電機工程學系碩博士班
模擬無接面環繞式閘極電晶體相同截面積下不同長寬表現差異 = Simulating Gate-All-Around MOSFETs with Different Perimeters but Equal Cross-Section Area
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Simulating Gate-All-Around MOSFETs with Different Perimeters but Equal Cross-Section Area
作者:
鄭雄展,
其他團體作者:
國立高雄大學
出版地:
高雄市
出版者:
國立高雄大學;
出版年:
2023[民112]
面頁冊數:
x,29葉圖 : 30公分;
標題:
環繞式閘極電晶體
標題:
Gate-All-Around Field-Effect Transistor (GAAFET)
電子資源:
https://handle.ncl.edu.tw/11296/kjrm7g
附註:
112年12月1日公開
附註:
參考書目: 葉28-29
模擬無接面環繞式閘極電晶體相同截面積下不同長寬表現差異 = Simulating Gate-All-Around MOSFETs with Different Perimeters but Equal Cross-Section Area
鄭, 雄展
模擬無接面環繞式閘極電晶體相同截面積下不同長寬表現差異
= Simulating Gate-All-Around MOSFETs with Different Perimeters but Equal Cross-Section Area / 鄭雄展撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2023[民112]. - x,29葉 ; 圖 ; 30公分.
112年12月1日公開參考書目: 葉28-29.
環繞式閘極電晶體Gate-All-Around Field-Effect Transistor (GAAFET)
模擬無接面環繞式閘極電晶體相同截面積下不同長寬表現差異 = Simulating Gate-All-Around MOSFETs with Different Perimeters but Equal Cross-Section Area
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指導教授: 張文騰博士
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碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩博士班
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Simulating Gate-All-Around MOSFETs with Different Perimeters but Equal Cross-Section Area
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環繞式閘極電晶體
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次臨界擺幅
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汲極能障降低
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短通道效應
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奈米片
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Gate-All-Around Field-Effect Transistor (GAAFET)
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Subthreshold Swing (SS)
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Drain-Induced Barrier Lowering (DIBL)
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Short-Channel Effects
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博碩士論文區(二樓)
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博碩士論文區(二樓)
不外借資料
學位論文
TH 008M/0019 542201 8747 2023
一般使用(Normal)
在架
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博碩士論文區(二樓)
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學位論文
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