國立高雄大學圖資館 |

語系: 繁體中文

登入

回首頁

切換: 標籤 | MARC模式 | ISBD

基於遺傳演算法之半導體產品溫度循環測試排程 = Scheduling o...

國立高雄大學資訊工程學系碩士班

基於遺傳演算法之半導體產品溫度循環測試排程 = Scheduling of Semiconductor-Product Thermal Cycling Tests Based on Genetic Algorithms

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Scheduling of Semiconductor-Product Thermal Cycling Tests Based on Genetic Algorithms
作者:	邱奕城,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	國立高雄大學;
出版年:	2023[民112]
面頁冊數:	xi,69葉圖,表 : 30公分;
標題:	遺傳演算法
標題:	genetic algorithm
電子資源:	https://handle.ncl.edu.tw/11296/xb6542
附註:	112年12月1日公開
附註:	參考書目: 葉63-69

基於遺傳演算法之半導體產品溫度循環測試排程 = Scheduling of Semiconductor-Product Thermal Cycling Tests Based on Genetic Algorithms
邱, 奕城

基於遺傳演算法之半導體產品溫度循環測試排程 = Scheduling of Semiconductor-Product Thermal Cycling Tests Based on Genetic Algorithms / 邱奕城撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2023[民112]. - xi,69葉 ; 圖,表 ; 30公分.
112年12月1日公開參考書目: 葉63-69.
遺傳演算法genetic algorithm

基於遺傳演算法之半導體產品溫度循環測試排程 = Scheduling of Semiconductor-Product Thermal Cycling Tests Based on Genetic Algorithms
LDR:01232pam0a2200277 450 001 637318
005 20240312154257.0
010 0 $b 精裝
010 0 $b 平裝
099 $a 111NUK00392029
100 $a 20230915y2023 k y0chiy50 e
101 0 $a chi $d chi $d eng
102 $a tw
105 $a ak am 000yy
200 1 $a 基於遺傳演算法之半導體產品溫度循環測試排程 $d Scheduling of Semiconductor-Product Thermal Cycling Tests Based on Genetic Algorithms $z eng $f 邱奕城撰
210 $a 高雄市 $c 國立高雄大學 $d 2023[民112]
215 0 $a xi,69葉 $c 圖,表 $d 30公分
300 $a 112年12月1日公開
300 $a 參考書目: 葉63-69
314 $a 指導教授: 洪宗貝博士, 李詠騏博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學資訊工程學系碩士班
510 1 $a Scheduling of Semiconductor-Product Thermal Cycling Tests Based on Genetic Algorithms $z eng
610 # 0 $a 遺傳演算法 $a 群組導向遺傳演算法 $a 排程 $a 半導體 $a 溫度循環測試
610 # 1 $a genetic algorithm $a group-oriented genetic algorithm $a scheduling $a semiconductor $a thermal cycling test
681 $a 008M/0019 $b 464103 7704 $v 2007年版
700 1 $a 邱 $b 奕城 $4 撰 $3 943696
712 0 2 $a 國立高雄大學 $b 資訊工程學系碩士班 $3 353878
801 0 $a tw $b NUK $c 20230915 $g CCR
856 4 # $u https://handle.ncl.edu.tw/11296/xb6542 $z 電子資源