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AI檢驗於Fan-out封裝產品氣泡缺陷的影像檢驗研究 = The Ap...

國立高雄大學電機工程學系-半導體製造智能化技術產業碩士專班

AI檢驗於Fan-out封裝產品氣泡缺陷的影像檢驗研究 = The Application of AI Inspection to Improve thePerformance of Automatic Optical Inspection of theBubble Defects of Fan-out Package

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	The Application of AI Inspection to Improve thePerformance of Automatic Optical Inspection of theBubble Defects of Fan-out Package
Author:	蘇柏維,
Secondary Intellectual Responsibility:	國立高雄大學
Place of Publication:	高雄市
Published:	國立高雄大學;
Year of Publication:	2024[民113]
Description:	37葉圖 : 30公分;
Subject:	評估指標
Subject:	Anomaly Detection
Online resource:	https://handle.ncl.edu.tw/11296/cq6xh5
Notes:	113年11月15日公開
Notes:	參考書目: 葉36-37

AI檢驗於Fan-out封裝產品氣泡缺陷的影像檢驗研究 = The Application of AI Inspection to Improve thePerformance of Automatic Optical Inspection of theBubble Defects of Fan-out Package
蘇, 柏維

AI檢驗於Fan-out封裝產品氣泡缺陷的影像檢驗研究 = The Application of AI Inspection to Improve thePerformance of Automatic Optical Inspection of theBubble Defects of Fan-out Package / 蘇柏維撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2024[民113]. - 37葉 ; 圖 ; 30公分.
113年11月15日公開參考書目: 葉36-37.
評估指標Anomaly Detection

AI檢驗於Fan-out封裝產品氣泡缺陷的影像檢驗研究 = The Application of AI Inspection to Improve thePerformance of Automatic Optical Inspection of theBubble Defects of Fan-out Package
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300 $a 參考書目: 葉36-37
314 $a 指導教授: 施明昌博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系-半導體製造智能化技術產業碩士專班
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