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AI檢驗於Fan-out封裝產品氣泡缺陷的影像檢驗研究 = The Ap...

國立高雄大學電機工程學系-半導體製造智能化技術產業碩士專班

AI檢驗於Fan-out封裝產品氣泡缺陷的影像檢驗研究 = The Application of AI Inspection to Improve thePerformance of Automatic Optical Inspection of theBubble Defects of Fan-out Package

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	The Application of AI Inspection to Improve thePerformance of Automatic Optical Inspection of theBubble Defects of Fan-out Package
作者:	蘇柏維,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	國立高雄大學;
出版年:	2024[民113]
面頁冊數:	37葉圖 : 30公分;
標題:	評估指標
標題:	Anomaly Detection
電子資源:	https://handle.ncl.edu.tw/11296/cq6xh5
附註:	113年11月15日公開
附註:	參考書目: 葉36-37

AI檢驗於Fan-out封裝產品氣泡缺陷的影像檢驗研究 = The Application of AI Inspection to Improve thePerformance of Automatic Optical Inspection of theBubble Defects of Fan-out Package
蘇, 柏維

AI檢驗於Fan-out封裝產品氣泡缺陷的影像檢驗研究 = The Application of AI Inspection to Improve thePerformance of Automatic Optical Inspection of theBubble Defects of Fan-out Package / 蘇柏維撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2024[民113]. - 37葉 ; 圖 ; 30公分.
113年11月15日公開參考書目: 葉36-37.
評估指標Anomaly Detection

AI檢驗於Fan-out封裝產品氣泡缺陷的影像檢驗研究 = The Application of AI Inspection to Improve thePerformance of Automatic Optical Inspection of theBubble Defects of Fan-out Package
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314 $a 指導教授: 施明昌博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系-半導體製造智能化技術產業碩士專班
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