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TFT-LCD源極驅動IC量產測試改善之研究 = Studies on ...
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國立高雄應用科技大學電子工程系碩士在職專班
TFT-LCD源極驅動IC量產測試改善之研究 = Studies on Mass Production of TFI-LCD Source Driver IC Testing
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Studies on Mass Production of TFI-LCD Source Driver IC Testing
作者:
李嶸雲,
其他團體作者:
國立高雄應用科技大學
出版地:
[高雄市]
出版者:
撰者;
出版年:
2007[民96]
面頁冊數:
73面圖,表 : 30公分;
標題:
源極驅動器測試
標題:
TFT-LCD Source Driver Test
附註:
參考書目:面71-73
摘要註:
本文分析現在源極驅動IC設計公司量產中的源極驅動電路測試程式,藉由縮短測試時間及提升測試良率兩大方向的研究,實際提高了測試的產量,節省測試成本。並應用物件導向程式設計技術的重用性(reuse),使得現有的測試程式能快速地套上本文所提出的方法,不需要大量更改現有的測試程式。在縮短測試時間的研究,使用了「平行運算」及「多執行緒」,並輔以「改變測試方法」、「精簡截入測試條件」、「合併測試項目」、「已傳址取代傳值」及「改善設計不當程式庫」等方式來縮短測試時間。並將這些方法實際應用到量產的程式,實際縮短了41%的測試時間,相當於增加了41%的產能。在提升測試良率的研究上,我們提出了負載電流即時動態補償方式,在不更動測試系統硬體的狀態下,藉由軟體的方式提高了LCD PE負載電流輸出的精確度,以提供源極驅動電路更精確的負載電流,在執行時間改變不大的情況下,提升了約1%的測試良率,相當於增加了1%的產能,對源極驅動IC產業有所貢獻。
TFT-LCD源極驅動IC量產測試改善之研究 = Studies on Mass Production of TFI-LCD Source Driver IC Testing
李, 嶸雲
TFT-LCD源極驅動IC量產測試改善之研究
= Studies on Mass Production of TFI-LCD Source Driver IC Testing / 李嶸雲撰 - [高雄市] : 撰者, 2007[民96]. - 73面 ; 圖,表 ; 30公分.
參考書目:面71-73.
源極驅動器測試TFT-LCD Source Driver Test
TFT-LCD源極驅動IC量產測試改善之研究 = Studies on Mass Production of TFI-LCD Source Driver IC Testing
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李嶸雲撰
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參考書目:面71-73
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指導教授:鄭平守博士
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碩士論文--國立高雄應用科技大學電子工程系碩士在職專班
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本文分析現在源極驅動IC設計公司量產中的源極驅動電路測試程式,藉由縮短測試時間及提升測試良率兩大方向的研究,實際提高了測試的產量,節省測試成本。並應用物件導向程式設計技術的重用性(reuse),使得現有的測試程式能快速地套上本文所提出的方法,不需要大量更改現有的測試程式。在縮短測試時間的研究,使用了「平行運算」及「多執行緒」,並輔以「改變測試方法」、「精簡截入測試條件」、「合併測試項目」、「已傳址取代傳值」及「改善設計不當程式庫」等方式來縮短測試時間。並將這些方法實際應用到量產的程式,實際縮短了41%的測試時間,相當於增加了41%的產能。在提升測試良率的研究上,我們提出了負載電流即時動態補償方式,在不更動測試系統硬體的狀態下,藉由軟體的方式提高了LCD PE負載電流輸出的精確度,以提供源極驅動電路更精確的負載電流,在執行時間改變不大的情況下,提升了約1%的測試良率,相當於增加了1%的產能,對源極驅動IC產業有所貢獻。
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310002516147
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TH 008M/0027 542204 4021 2007
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