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[ subject:"Digital integrated circuits" ]
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Digital circuit testing and testabil...
~
Lala, Parag K., (1948-)
Digital circuit testing and testability /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
Digital circuit testing and testability /Parag K. Lala.
作者:
Lala, Parag K.,
出版者:
San Diego :Academic Press,c1997.
面頁冊數:
xii, 199 p. :ill. ;24 cm.
標題:
Integrated circuitsVery large scale integration
ISBN:
0124343309 :
Digital circuit testing and testability /
Lala, Parag K.,1948-
Digital circuit testing and testability /
Parag K. Lala. - San Diego :Academic Press,c1997. - xii, 199 p. :ill. ;24 cm.
Includes bibliographical references and index.
ISBN: 0124343309 :NT$2,742
LCCN: 96042114 Subjects--Topical Terms:
182401
Integrated circuits
--Very large scale integration
LC Class. No.: TK7874.75 / L193 1997
Dewey Class. No.: 621.39/5/0287
Digital circuit testing and testability /
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全部
西方語文圖書區(四樓)
館藏
1 筆 • 頁數 1 •
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320000043317
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一般圖書
TK7874.75 L193 1997
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