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[ subject:"Automatic checkout equipment." ]
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Testability concepts for digital ICs...
~
Beenker, F. P. M.
Testability concepts for digital ICs :the macro test approach /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
Testability concepts for digital ICs :by F.P.M. Beenker, R.G. Bennetts, A.P. Thijssen.
其他題名:
the macro test approach /
作者:
Beenker, F. P. M.
其他作者:
Bennetts, R. G.
出版者:
Boston :Kluwer Academic Publishers,c1995.
面頁冊數:
ix, 212 p. :ill. ;25 cm.
叢書名:
Frontiers in electronic testing
標題:
Automatic checkout equipment.
ISBN:
0792396588 (hardcover : alk. paper) :
Testability concepts for digital ICs :the macro test approach /
Beenker, F. P. M.
Testability concepts for digital ICs :
the macro test approach /by F.P.M. Beenker, R.G. Bennetts, A.P. Thijssen. - Boston :Kluwer Academic Publishers,c1995. - ix, 212 p. :ill. ;25 cm. - Frontiers in electronic testing.
Includes bibliographical references (p. 197-205).
ISBN: 0792396588 (hardcover : alk. paper) :NT$3,616
LCCN: 95040166 Subjects--Topical Terms:
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Automatic checkout equipment.
LC Class. No.: TK7874.65 / B414 1996
Dewey Class. No.: 621.3815/48
Testability concepts for digital ICs :the macro test approach /
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西方語文圖書區(四樓)
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TK7874.65 B414 1996
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