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Advanced production testing of RF, S...
Engelhardt, Michael.

 

  • Advanced production testing of RF, SoC, and SiP devices /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: Advanced production testing of RF, SoC, and SiP devices /Joe Kelly, Michael Engelhardt.
    作者: Kelly, Joe.
    其他作者: Engelhardt, Michael.
    出版者: Boston :Artech House,c2007.
    面頁冊數: xx, 301 p. :ill. ;24 cm.
    叢書名: Artech House microwave library
    標題: Systems on a chipTesting.
    ISBN: 9781580537094
館藏
  • 1 筆 • 頁數 1 •
 
320000458994 西方語文圖書區(四樓) 1圖書 一般圖書 TK7895.E42 K29 2007 一般使用(Normal) 在架 0
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