張仁平

發明專利實體審查基準 = Substantive examination guidelines for invention patent(二). 二 by: 國立臺灣大學科際整合法律學研究所; 張仁平 (Language materials, printed) , [作]

發明專利實體審查基準 = Guidelines for Substantive Examination of Invention Patent (1) : Compilation International Regulations and Case Studies. (一). 國際法規與案例彙編 by: 國立臺灣大學科際整合法律學研究所; 張仁平; 謝銘洋 (Language materials, printed) , [作]

專利審查基準及實務 by: 張仁平 (Language materials, printed) , [著]

專利審查基準及實務. 下冊. 發明(II).設計.新型.舉發篇 by: 凌網科技股份有限公司; 張仁平 (Electronic resources)

專利審查基準及實務 by: 張仁平 (Language materials, printed) , [著]

專利審查基準及實務. 上冊. 程序、發明(I)篇 by: 凌網科技股份有限公司; 張仁平 (Electronic resources)

專利審查基準及實務. 下. 發明(II)、新式樣、新型、舉發篇 by: 凌網科技股份有限公司; 張仁平 (Electronic resources)

專利審查基準及實務. 上. 程序、發明(I)篇 by: 凌網科技股份有限公司; 張仁平 (Electronic resources)