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胡鈞元

概要
作品: 184 作品在 1 項出版品 1 種語言
書目資訊
利用麥克森干涉光學原理於DRAM薄型封裝後平面度之量測 = The surface profile measurement of DRAM thin packaged Devices by using Michelson Interference method by: 國立高雄大學電機工程學系--工業技術整合產業研發碩士專班; 胡鈞元 (書目-語言資料,印刷品) , [撰]
 
 
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