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主題
蔡宗勳
概要
作品:
2 作品在 1 項出版品 1 種語言
書目資訊
應用六標準差方法改善晶圓製程之外觀缺陷率－以F廠為例 = Applying the Six Sigma Approach to Improve the Surface Defect Rate of the Wafer Process: A Case Study of F Fab
by: 國立高雄大學亞太工商管理學系碩士班; 蔡宗勳
(書目-語言資料,印刷品)
, [撰]
主題
六標準差
Six Sigma
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