蔡佳男

具有IEEE 1500 測試標準之密碼系統晶片的可測試性技術 = Design for Testability ( DFT ) of Cryptographic SoC with IEEE Std. 1500 by: 國立高雄大學電機工程學系碩士班; 蔡佳男 (Language materials, printed) , [撰]