語系
吳易儒
概要
| 作品: | 1 作品在 1 項出版品 1 種語言 | |
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書目資訊
應用變換器技術偵測與預測於晶圓測試之探針標記損壞 = Applying Transformer Technology to Probe Mark Damage Detection and Prediction in Wafer Testing
by:
吳易儒; 國立高雄大學資訊工程學系碩士班
(書目-語言資料,印刷品)
, [撰]
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