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矽基板上濺鍍沉積氮化銦薄膜之研究 = Study of Sputtere...
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國立高雄大學電機工程學系碩士班
矽基板上濺鍍沉積氮化銦薄膜之研究 = Study of Sputtered InN film on Si substrate
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Study of Sputtered InN film on Si substrate
作者:
陳源澤,
其他團體作者:
國立高雄大學
出版地:
[高雄市]
出版者:
撰者;
出版年:
2008[民97]
面頁冊數:
56面圖,表 : 30公分;
標題:
直流磁控濺鍍
標題:
DC magnetron sputtering
電子資源:
http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/69063260807571013085
附註:
指導教授:藍文厚
附註:
參考書目:面44-45
摘要註:
本論文探討以直流磁控濺鍍法(DC magnetron sputtering)在P型矽基板(Si, Silicon)上濺鍍沉積氮化銦(InN, Indium Nitride)薄膜,進行P-N二極體之製作。研究介面層、沉積溫度對元件電性與光性之影響。經由後續退火機制,可有效提高在此P-N元件之光電流(Photo current)。同時藉著介面低溫層(low temperature InN)之引進與適當製程參數的配合,完成低漏電電流與高光電流之P-N二極體。並對其波長響應度與能帶結構作一探討。 In this dissertation we studied the deposition of InN (Indium Nitride) thin film on p-Si substrate by DC magnetron sputtering. After process, the P-N diodes were fabricated. The electrical and optical properties of these P-N diodes were characterized for different interface treatment and deposition temperature. The following anneal process shows an improvement effect for the photo current of such P-N diode. With the introduce of low temperature interface layer and followed suitable process, a P-N diode with low dark current and high photo current can be achieved. The responsivity and band structure were also studied for such P-N diode.
矽基板上濺鍍沉積氮化銦薄膜之研究 = Study of Sputtered InN film on Si substrate
陳, 源澤
矽基板上濺鍍沉積氮化銦薄膜之研究
= Study of Sputtered InN film on Si substrate / 陳源澤撰 - [高雄市] : 撰者, 2008[民97]. - 56面 ; 圖,表 ; 30公分.
指導教授:藍文厚參考書目:面44-45.
直流磁控濺鍍DC magnetron sputtering
矽基板上濺鍍沉積氮化銦薄膜之研究 = Study of Sputtered InN film on Si substrate
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碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩士班
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本論文探討以直流磁控濺鍍法(DC magnetron sputtering)在P型矽基板(Si, Silicon)上濺鍍沉積氮化銦(InN, Indium Nitride)薄膜,進行P-N二極體之製作。研究介面層、沉積溫度對元件電性與光性之影響。經由後續退火機制,可有效提高在此P-N元件之光電流(Photo current)。同時藉著介面低溫層(low temperature InN)之引進與適當製程參數的配合,完成低漏電電流與高光電流之P-N二極體。並對其波長響應度與能帶結構作一探討。 In this dissertation we studied the deposition of InN (Indium Nitride) thin film on p-Si substrate by DC magnetron sputtering. After process, the P-N diodes were fabricated. The electrical and optical properties of these P-N diodes were characterized for different interface treatment and deposition temperature. The following anneal process shows an improvement effect for the photo current of such P-N diode. With the introduce of low temperature interface layer and followed suitable process, a P-N diode with low dark current and high photo current can be achieved. The responsivity and band structure were also studied for such P-N diode.
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310001730046
博碩士論文區(二樓)
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學位論文
008M/0019 542201 7533 2008
一般使用(Normal)
在架
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