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Accelerated testing :statistical mod...
~
Nelson, Wayne, (1936-)
Accelerated testing :statistical models, test plans, and data analyses /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
Accelerated testing :Wayne Nelson.
其他題名:
statistical models, test plans, and data analyses /
作者:
Nelson, Wayne,
出版者:
Hoboken, NJ :Wiley-Interscience,c2004.
面頁冊數:
xiv, 601 p. :ill. ;23 cm.
叢書名:
Wiley series in probability and mathematical statistics
標題:
Failure time data analysis.
ISBN:
0471697362 (pbk.) :
Accelerated testing :statistical models, test plans, and data analyses /
Nelson, Wayne,1936-
Accelerated testing :
statistical models, test plans, and data analyses /Wayne Nelson. - Hoboken, NJ :Wiley-Interscience,c2004. - xiv, 601 p. :ill. ;23 cm. - Wiley series in probability and mathematical statistics.
Includes bibliographical references (p. 561-577) and index.
ISBN: 0471697362 (pbk.) :NT$2600Subjects--Topical Terms:
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Failure time data analysis.
Accelerated testing :statistical models, test plans, and data analyses /
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Includes bibliographical references (p. 561-577) and index.
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全部
西方語文圖書區(四樓)
館藏
1 筆 • 頁數 1 •
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320000333791
西方語文圖書區(四樓)
1圖書
一般圖書
QA276 N432 2004
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