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High resolution X-ray diffractometry...
~
Bowen, D. Keith (1940-)
High resolution X-ray diffractometry and topography /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
High resolution X-ray diffractometry and topography /D. Keith Bowen and Brian K. Tanner.
作者:
Bowen, D. Keith
其他作者:
Tanner, B. K.
出版者:
Bristol, PA :Taylor & Francis,c1998.
面頁冊數:
x, 252 p. :ill. ;28 cm.
標題:
X-ray crystallography.
ISBN:
0850667585 (hbk.) :
High resolution X-ray diffractometry and topography /
Bowen, D. Keith1940-
High resolution X-ray diffractometry and topography /
D. Keith Bowen and Brian K. Tanner. - Bristol, PA :Taylor & Francis,c1998. - x, 252 p. :ill. ;28 cm.
Includes bibliographical references and index.
ISBN: 0850667585 (hbk.) :NT3635
LCCN: 98136331 Subjects--Topical Terms:
194759
X-ray crystallography.
LC Class. No.: QD945 / .B683 1998
Dewey Class. No.: 548/.83
High resolution X-ray diffractometry and topography /
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全部
西方語文圖書區(四樓)
館藏
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320000366569
西方語文圖書區(四樓)
1圖書
一般圖書
QD945 B786 1998
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