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Thin film analysis by X-ray scattering /
~
Birkholz, Mario.
Thin film analysis by X-ray scattering /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
Thin film analysis by X-ray scattering /Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel.
作者:
Birkholz, Mario.
其他作者:
Fewster, Paul F.
出版者:
Weinheim :Wiley-VCH ;c2006.
面頁冊數:
xxii, 356 p. :ill. ;25 cm.
標題:
X-ray spectroscopy.
ISBN:
3527310525 :
Thin film analysis by X-ray scattering /
Birkholz, Mario.
Thin film analysis by X-ray scattering /
Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel. - Weinheim :Wiley-VCH ;c2006. - xxii, 356 p. :ill. ;25 cm.
Includes bibliographical references and index.
ISBN: 3527310525 :NT$4130
Standard No.: 9783527310524
Nat. Bib. No.: GBA545029bnbSubjects--Topical Terms:
188603
X-ray spectroscopy.
LC Class. No.: QC176.83 / B619 2006
Thin film analysis by X-ray scattering /
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西方語文圖書區(四樓)
館藏
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320000398539
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一般圖書
QC176.83 B619 2006
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