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奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspecti...
~
伍秀菁
奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspection technology
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Avanced nano-scale inspection technology
其他作者:
伍秀菁,
其他作者:
汪若文,
其他作者:
吳振勇,
出版地:
新竹市
出版者:
國家實驗研究院儀器科技研究中心出版; 全華總經銷;
出版年:
2009[民98]
版本:
初版
面頁冊數:
24,654面圖,表,照片 : 26公分;
標題:
奈米技術 -
附註:
含參考書目
附註:
含索引
ISBN:
978-986-81409-4-3
奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspection technology
奈米檢測技術
= Avanced nano-scale inspection technology / 伍秀菁,汪若文編輯 ; 吳振勇美術編輯 - 初版. - 新竹市 : 國家實驗研究院儀器科技研究中心出版, 2009[民98]. - 24,654面 ; 圖,表,照片 ; 26公分.
含參考書目含索引.
ISBN 978-986-81409-4-3
奈米技術
伍, 秀菁
奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspection technology
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東方語文圖書區(五樓)
館藏
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一般圖書
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