正偏壓不穩定效應及熱載子效應對N型鰭化式場效電晶體之可靠度研究 = Th...
國立高雄大學電機工程學系碩士班

 

  • 正偏壓不穩定效應及熱載子效應對N型鰭化式場效電晶體之可靠度研究 = The Investigation of Reliability for N-Channel FinFET in Positive Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: The Investigation of Reliability for N-Channel FinFET in Positive Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress
    作者: 翁介晨,
    其他團體作者: 國立高雄大學
    出版地: [高雄市]
    出版者: 撰者;
    出版年: 民103[2014]
    面頁冊數: 52葉圖 : 30公分;
    標題: 鰭化式場效電晶體
    標題: FinFET
    電子資源: http://hdl.handle.net/11296/ndltd/29910424516152688583
    附註: 106年10月31日公開
    附註: 參考書目:葉50-52
    摘要註: 紙本專利開放日106.07.30
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
310002724899 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 8086 2014 一般使用(Normal) 在架 0
310002724907 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 8086 2014 c.2 一般使用(Normal) 在架 0
  • 2 筆 • 頁數 1 •
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