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正偏壓不穩定效應及熱載子效應對N型鰭化式場效電晶體之可靠度研究 = Th...
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國立高雄大學電機工程學系碩士班
正偏壓不穩定效應及熱載子效應對N型鰭化式場效電晶體之可靠度研究 = The Investigation of Reliability for N-Channel FinFET in Positive Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
The Investigation of Reliability for N-Channel FinFET in Positive Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress
作者:
翁介晨,
其他團體作者:
國立高雄大學
出版地:
[高雄市]
出版者:
撰者;
出版年:
民103[2014]
面頁冊數:
52葉圖 : 30公分;
標題:
鰭化式場效電晶體
標題:
FinFET
電子資源:
http://hdl.handle.net/11296/ndltd/29910424516152688583
附註:
106年10月31日公開
附註:
參考書目:葉50-52
摘要註:
紙本專利開放日106.07.30
正偏壓不穩定效應及熱載子效應對N型鰭化式場效電晶體之可靠度研究 = The Investigation of Reliability for N-Channel FinFET in Positive Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress
翁, 介晨
正偏壓不穩定效應及熱載子效應對N型鰭化式場效電晶體之可靠度研究
= The Investigation of Reliability for N-Channel FinFET in Positive Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress / 翁介晨撰 - [高雄市] : 撰者, 民103[2014]. - 52葉 ; 圖 ; 30公分.
106年10月31日公開參考書目:葉50-52.
鰭化式場效電晶體FinFET
正偏壓不穩定效應及熱載子效應對N型鰭化式場效電晶體之可靠度研究 = The Investigation of Reliability for N-Channel FinFET in Positive Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress
LDR
:01300nam0 2200277 450
001
430214
005
20171103092814.0
010
0
$b
平裝
010
0
$b
精裝
100
$a
20141027y2014 k y0chiy50 e
101
0
$a
chi
$d
chi
$d
eng
102
$a
tw
105
$a
a am 000yy
200
1
$a
正偏壓不穩定效應及熱載子效應對N型鰭化式場效電晶體之可靠度研究
$d
The Investigation of Reliability for N-Channel FinFET in Positive Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress
$z
eng
$f
翁介晨撰
210
$a
[高雄市]
$c
撰者
$d
民103[2014]
215
0
$a
52葉
$c
圖
$d
30公分
300
$a
106年10月31日公開
300
$a
參考書目:葉50-52
314
$a
指導教授:葉文冠博士
328
$a
碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩士班
330
$a
紙本專利開放日106.07.30
510
1
$a
The Investigation of Reliability for N-Channel FinFET in Positive Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress
$z
eng
610
# 0
$a
鰭化式場效電晶體
$a
尺寸效應
$a
熱載子
$a
正偏壓不穩定
610
# 1
$a
FinFET
$a
size effect
$a
hot carrier
$a
positive bias temperature instability
681
$a
008M/0019
$b
542201 8086
$v
2007年版
700
1
$a
翁
$b
介晨
$4
撰
$3
673430
712
0 2
$a
國立高雄大學
$b
電機工程學系碩士班
$3
166118
801
0
$a
tw
$b
NUK
$c
20171030
$g
CCR
856
7 #
$u
http://hdl.handle.net/11296/ndltd/29910424516152688583
$2
http
$z
電子資源
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博碩士論文區(二樓)
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2 筆 • 頁數 1 •
1
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310002724899
博碩士論文區(二樓)
不外借資料
學位論文
TH 008M/0019 542201 8086 2014
一般使用(Normal)
在架
0
310002724907
博碩士論文區(二樓)
不外借資料
學位論文
TH 008M/0019 542201 8086 2014 c.2
一般使用(Normal)
在架
0
2 筆 • 頁數 1 •
1
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http://hdl.handle.net/11296/ndltd/29910424516152688583
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