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不同金屬閘極對多重鰭數N型鰭式場效電晶體之可靠度研究 = Impact ...

國立高雄大學電機工程學系碩士班

不同金屬閘極對多重鰭數N型鰭式場效電晶體之可靠度研究 = Impact of Metal-Gate on Device Performance and Reliability of Multi-Fin nFinFETs

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Impact of Metal-Gate on Device Performance and Reliability of Multi-Fin nFinFETs
作者:	陳詩堯,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	撰者;
出版年:	2016[民105]
面頁冊數:	110面圖，表格 : 30公分;
標題:	鰭式場效電晶體
標題:	FinFET
電子資源:	http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/19443910947791938800
附註:	105年10月25日公開
附註:	參考書目: 面90-95

不同金屬閘極對多重鰭數N型鰭式場效電晶體之可靠度研究 = Impact of Metal-Gate on Device Performance and Reliability of Multi-Fin nFinFETs
陳, 詩堯

不同金屬閘極對多重鰭數N型鰭式場效電晶體之可靠度研究 = Impact of Metal-Gate on Device Performance and Reliability of Multi-Fin nFinFETs / 陳詩堯撰 - 高雄市 : 撰者, 2016[民105]. - 110面 ; 圖，表格 ; 30公分.
105年10月25日公開參考書目: 面90-95.
鰭式場效電晶體FinFET

不同金屬閘極對多重鰭數N型鰭式場效電晶體之可靠度研究 = Impact of Metal-Gate on Device Performance and Reliability of Multi-Fin nFinFETs
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300 $a 參考書目: 面90-95
314 $a 指導教授: 葉文冠博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩士班
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