近場量測系統應用於多位置平行射頻測試之電磁干擾探討 = Investig...
國立高雄大學電機工程學系碩士班

 

  • 近場量測系統應用於多位置平行射頻測試之電磁干擾探討 = Investigation of Interference of RF Test under Multi Sites using Near-Field System
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: Investigation of Interference of RF Test under Multi Sites using Near-Field System
    作者: 柯韋智,
    其他團體作者: 國立高雄大學
    出版地: 高雄市
    出版者: 國立高雄大學;
    出版年: 2017[民106]
    面頁冊數: 54葉圖,表 : 30公分;
    標題: 射頻訊號
    標題: Radio Frequency Signal
    電子資源: http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/62762584639360187449
    附註: 106年10月25日公開
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
310002760976 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4148 2017 一般使用(Normal) 在架 0
310002760984 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4148 2017 c.2 一般使用(Normal) 在架 0
  • 2 筆 • 頁數 1 •
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