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以隨機電報雜訊對P型鰭式場效電晶體之缺陷特性研究 = The Inves...

國立高雄大學電機工程學系碩士班

以隨機電報雜訊對P型鰭式場效電晶體之缺陷特性研究 = The Investigation of Defect Distribution of pFinFET by Random Telegraph Noise

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	The Investigation of Defect Distribution of pFinFET by Random Telegraph Noise
作者:	楊程凱,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	國立高雄大學;
出版年:	2017[民106]
面頁冊數:	75葉圖 : 30公分;
標題:	鰭式場效電晶體
標題:	R-D (React-Diffusion) model
電子資源:	http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/82812929513464874720
附註:	106年10月25日公開

以隨機電報雜訊對P型鰭式場效電晶體之缺陷特性研究 = The Investigation of Defect Distribution of pFinFET by Random Telegraph Noise
楊, 程凱

以隨機電報雜訊對P型鰭式場效電晶體之缺陷特性研究 = The Investigation of Defect Distribution of pFinFET by Random Telegraph Noise / 楊程凱撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2017[民106]. - 75葉 ; 圖 ; 30公分.
106年10月25日公開.
參考書目: 葉73-75.
鰭式場效電晶體R-D (React-Diffusion) model

以隨機電報雜訊對P型鰭式場效電晶體之缺陷特性研究 = The Investigation of Defect Distribution of pFinFET by Random Telegraph Noise
LDR:01143pam0a2200265 450 001 503971
005 20171103091939.0
010 0 $b 精裝
010 0 $b 平裝
100 $a 20171005y2017 k y0chiy50 e
101 0 $a chi $d chi $d eng
102 $a tw
105 $a a am 000yy
200 1 $a 以隨機電報雜訊對P型鰭式場效電晶體之缺陷特性研究 $d The Investigation of Defect Distribution of pFinFET by Random Telegraph Noise $z eng $f 楊程凱撰
210 $a 高雄市 $c 國立高雄大學 $d 2017[民106]
215 0 $a 75葉 $c 圖 $d 30公分
300 $a 106年10月25日公開
314 $a 指導教授: 葉文冠博士
320 $a 參考書目: 葉73-75
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩士班
510 1 $a The Investigation of Defect Distribution of pFinFET by Random Telegraph Noise $z eng
610 # 0 $a 鰭式場效電晶體 $a 隨機電報雜訊 $a 高介電絕緣層/金屬閘極 $a 定電壓應力 $a 二氧化鉿
610 # 1 $a R-D (React-Diffusion) model
681 $a 008M/0019 $b 542201 4622 $v 2007年版
700 1 $a 楊 $b 程凱 $4 撰 $3 768777
712 0 2 $a 國立高雄大學 $b 電機工程學系碩士班 $3 166118
801 0 $a tw $b NUK $c 20171002 $g CCR
856 7 # $u http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/82812929513464874720 $z 電子資源 $2 http