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多重鰭數對P型鰭式場效電晶體之電性分析及可靠度研究 = The Stud...

國立高雄大學電機工程學系碩士班

多重鰭數對P型鰭式場效電晶體之電性分析及可靠度研究 = The Study of Device Performance and Reliability for Multi-Fin p-Channel Tri-Gate FinFET

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	The Study of Device Performance and Reliability for Multi-Fin p-Channel Tri-Gate FinFET
作者:	戴安妮,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	國立高雄大學;
出版年:	2017[民106]
面頁冊數:	69葉圖 : 30公分;
標題:	鰭式場效電晶體
標題:	FinFET
電子資源:	http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/29207050338063090638
附註:	106年10月25日公開

多重鰭數對P型鰭式場效電晶體之電性分析及可靠度研究 = The Study of Device Performance and Reliability for Multi-Fin p-Channel Tri-Gate FinFET
戴, 安妮

多重鰭數對P型鰭式場效電晶體之電性分析及可靠度研究 = The Study of Device Performance and Reliability for Multi-Fin p-Channel Tri-Gate FinFET / 戴安妮撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2017[民106]. - 69葉 ; 圖 ; 30公分.
106年10月25日公開.
參考書目: 葉68-69.
鰭式場效電晶體FinFET

多重鰭數對P型鰭式場效電晶體之電性分析及可靠度研究 = The Study of Device Performance and Reliability for Multi-Fin p-Channel Tri-Gate FinFET
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314 $a 指導教授: 葉文冠博士
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328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩士班
510 1 $a The Study of Device Performance and Reliability for Multi-Fin p-Channel Tri-Gate FinFET $z eng
610 # 0 $a 鰭式場效電晶體 $a 熱載子效應 $a 多重鰭結構 $a 耦合效應 $a 基底偏壓效應
610 # 1 $a FinFET $a hot carrier effect $a multi-fin $a coupling effect $a substrate-bias effect
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