背面電壓調整之超薄絕緣層上矽場效電晶體其特性及可靠度分析 = The I...
吳昭霖

 

  • 背面電壓調整之超薄絕緣層上矽場效電晶體其特性及可靠度分析 = The Investigation of Characteristic and Reliability for UTBBSOI with Different Back Bias Modulation
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: The Investigation of Characteristic and Reliability for UTBBSOI with Different Back Bias Modulation
    作者: 吳昭霖,
    其他團體作者: 國立高雄大學
    出版地: 高雄市
    出版者: 國立高雄大學;
    出版年: 2017[民106]
    面頁冊數: 48葉圖,表 : 30公分;
    標題: 超薄絕緣層上矽場效電晶體
    標題: UTBB-FDSOI
    電子資源: http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/41027194594615070826
    附註: 106年10月25日公開
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
310002760455 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 2661 2017 一般使用(Normal) 在架 0
310002760463 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 2661 2017 c.2 一般使用(Normal) 在架 0
  • 2 筆 • 頁數 1 •
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