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利用QFD與FMEA降低會展流程失效風險 = Using QFD and...

國立高雄大學亞太工商管理學系碩士班

利用QFD與FMEA降低會展流程失效風險 = Using QFD and FMEA to Reduce the Exposure Process Failure Risk

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Using QFD and FMEA to Reduce the Exposure Process Failure Risk
作者:	林佑蒨,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	國立高雄大學;
出版年:	2018[民107]
面頁冊數:	62葉圖，表格 : 30公分;
標題:	會展產業
標題:	Exhibition Industry
電子資源:	https://hdl.handle.net/11296/gdkqvq
附註:	107年11月1日公開
附註:	參考書目：葉56-60

利用QFD與FMEA降低會展流程失效風險 = Using QFD and FMEA to Reduce the Exposure Process Failure Risk
林, 佑蒨

利用QFD與FMEA降低會展流程失效風險 = Using QFD and FMEA to Reduce the Exposure Process Failure Risk / 林佑蒨撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2018[民107]. - 62葉 ; 圖，表格 ; 30公分.
107年11月1日公開參考書目：葉56-60.
會展產業Exhibition Industry

利用QFD與FMEA降低會展流程失效風險 = Using QFD and FMEA to Reduce the Exposure Process Failure Risk
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300 $a 參考書目：葉56-60
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328 $a 碩士論文--國立高雄大學亞太工商管理學系碩士班
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610 # 1 $a Exhibition Industry $a Quality Function Deployment $a Failure Mode & Effect Analysis $a FTCC Mode
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