應用麥克森干涉法於晶圓尺寸封裝熱形變量測之研究 = The Charac...
國立高雄大學電機工程學系--電子構裝整合技術產業碩士專班

 

  • 應用麥克森干涉法於晶圓尺寸封裝熱形變量測之研究 = The Characterization of Thermal Deformation of Wafer Level Package Using Michelson Interference Method
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: The Characterization of Thermal Deformation of Wafer Level Package Using Michelson Interference Method
    作者: 陳志僑,
    其他團體作者: 國立高雄大學
    出版地: 高雄市
    出版者: 國立高雄大學;
    出版年: 2018[民107]
    面頁冊數: 50葉圖,表格 : 30公分;
    標題: 麥克森干涉儀
    標題: Michelson interferometer
    電子資源: https://hdl.handle.net/11296/4t37e9
    附註: 107年11月1日公開
    附註: 參考書目:葉47
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
310002821778 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 7542 2018 一般使用(Normal) 在架 0
310002821786 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 7542 2018 c.2 一般使用(Normal) 在架 0
  • 2 筆 • 頁數 1 •
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