結合類神經網路LSTM與大數據分析技術用於半導體製程良率的改善 = Im...
國立高雄大學電機工程學系碩士班

 

  • 結合類神經網路LSTM與大數據分析技術用於半導體製程良率的改善 = Improvement of Semiconductor Process Yield Using Machine Learning and Big Data Analysis Techniques
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: Improvement of Semiconductor Process Yield Using Machine Learning and Big Data Analysis Techniques
    作者: 李彥宏,
    其他團體作者: 國立高雄大學
    出版地: 高雄市
    出版者: 國立高雄大學;
    出版年: 2017[民106]
    面頁冊數: 54葉圖,表格 : 30公分;
    標題: LSTM
    標題: LSTM
    電子資源: https://hdl.handle.net/11296/82u454
    附註: 107年11月1日公開
    附註: 參考書目:葉51-54
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
310002821919 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4003 2018 一般使用(Normal) 在架 0
310002821927 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4003 2018 c.2 一般使用(Normal) 在架 0
  • 2 筆 • 頁數 1 •
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