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近場量測應用於系統電路靜電消散路徑檢測及靜電防護最佳化設計之研究 = T...

國立高雄大學電機工程學系碩士班

近場量測應用於系統電路靜電消散路徑檢測及靜電防護最佳化設計之研究 = The Near Field Measurement Technology for System Level ESD Testing and Optimization of ESD Protection

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	The Near Field Measurement Technology for System Level ESD Testing and Optimization of ESD Protection
作者:	李承道,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	國立高雄大學;
出版年:	2018[民107]
面頁冊數:	77葉部分彩圖，表格 : 30公分;
標題:	系統級靜電放電檢測
標題:	System Level Electrostatic Discharge Testing
電子資源:	https://hdl.handle.net/11296/x7tcxh
附註:	107年11月1日公開
附註:	參考書目：葉74-77

近場量測應用於系統電路靜電消散路徑檢測及靜電防護最佳化設計之研究 = The Near Field Measurement Technology for System Level ESD Testing and Optimization of ESD Protection
李, 承道

近場量測應用於系統電路靜電消散路徑檢測及靜電防護最佳化設計之研究 = The Near Field Measurement Technology for System Level ESD Testing and Optimization of ESD Protection / 李承道撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2018[民107]. - 77葉 ; 部分彩圖，表格 ; 30公分.
107年11月1日公開參考書目：葉74-77.
系統級靜電放電檢測System Level Electrostatic Discharge Testing

近場量測應用於系統電路靜電消散路徑檢測及靜電防護最佳化設計之研究 = The Near Field Measurement Technology for System Level ESD Testing and Optimization of ESD Protection
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300 $a 參考書目：葉74-77
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328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩士班
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