外牆磁磚黏著層空鼓率與黏著強度破壞臨界點之研究 = A Study on...
國立高雄大學建築學系

 

  • 外牆磁磚黏著層空鼓率與黏著強度破壞臨界點之研究 = A Study on The Critical Point of Bonding Failure and Hollow Ratio at Adhesion Layer of External Wall Tiles
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: A Study on The Critical Point of Bonding Failure and Hollow Ratio at Adhesion Layer of External Wall Tiles
    作者: 謝佳鈺,
    其他團體作者: 國立高雄大學
    出版地: 高雄市
    出版者: 國立高雄大學;
    出版年: 2020[民109]
    面頁冊數: [7],119面圖,表 : 30公分;
    標題: 黏著層空鼓率
    標題: ratio of hollow at adhesion layer
    電子資源: https://handle.ncl.edu.tw/11296/c6x73t
    附註: 109年11月18日公開
    附註: 參考書目:面83-84
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
310002929639 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 582204 0428 2020 一般使用(Normal) 在架 0
310002929647 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 582204 0428 2020 c.2 一般使用(Normal) 在架 0
  • 2 筆 • 頁數 1 •
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