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許值誠
概要
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書目資訊
熱載子效應及定電壓應力對不同主動區面積Tri-Gate FinFET元件之可靠度研究 = Study on Reliability of Tri-gate FinFET with Different Active Surface Area(SA) in Hot Carriers Effect and Constant Voltage Stress
by:
國立高雄大學電機工程學系碩博士班; 許值誠
(書目-語言資料,印刷品)
, [撰]