熱載子效應及定電壓應力對不同主動區面積Tri-Gate FinFET元件...
國立高雄大學電機工程學系碩博士班

 

  • 熱載子效應及定電壓應力對不同主動區面積Tri-Gate FinFET元件之可靠度研究 = Study on Reliability of Tri-gate FinFET with Different Active Surface Area(SA) in Hot Carriers Effect and Constant Voltage Stress
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: Study on Reliability of Tri-gate FinFET with Different Active Surface Area(SA) in Hot Carriers Effect and Constant Voltage Stress
    Author: 許值誠,
    Secondary Intellectual Responsibility: 國立高雄大學
    Place of Publication: 高雄市
    Published: 國立高雄大學;
    Year of Publication: 2018[民107]
    Description: 55葉圖 : 30公分;
    Subject: 淺溝槽隔離
    Subject: Active Surface Area
    Online resource: http://handle.ncl.edu.tw/11296/jf6x7q
    Notes: 112年9月18日公開
    Notes: 參考書目: 葉52-55
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310003053454 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 0820 2018 一般使用(Normal) On shelf 0
310003053462 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 0820 2018 c.2 一般使用(Normal) On shelf 0
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