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發明專利實體審查基準 = Guidelines for Substantive Examination of Invention Patent (1) : Compilation International Regulations and Case Studies. (一). 國際法規與案例彙編

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Guidelines for Substantive Examination of Invention Patent (1)
副題名:	Compilation International Regulations and Case Studies
作者:	張仁平,
其他作者:	謝銘洋,
其他團體作者:	國立臺灣大學
出版地:	臺北市
出版者:	經濟部智慧財產局;
出版年:	2007[民96]
版本:	初版
面頁冊數:	[6], 306面圖 : 21公分;
集叢名:	智慧財產培訓學院教材47
標題:	專利 - 標準 -
其他題名:	國際法規與案例彙編
ISBN:	978-986-00-7893-0

發明專利實體審查基準 = Guidelines for Substantive Examination of Invention Patent (1) : Compilation International Regulations and Case Studies. (一). 國際法規與案例彙編
張, 仁平

發明專利實體審查基準 = Guidelines for Substantive Examination of Invention Patent (1). (一), 國際法規與案例彙編 : Compilation International Regulations and Case Studies / 張仁平，謝銘洋作 ; 國立臺灣大學科際整合法律學研究所編印 - 初版. - 臺北市 : 經濟部智慧財產局, 2007[民96]. - [6], 306面 ; 圖 ; 21公分. - (智慧財產培訓學院教材 ; 47).
ISBN 978-986-00-7893-0
專利 -- 標準

謝, 銘洋

發明專利實體審查基準 = Guidelines for Substantive Examination of Invention Patent (1) : Compilation International Regulations and Case Studies. (一). 國際法規與案例彙編
LDR:01003cam0 2200229 450 001 111166
005 20230411192214.0
009 00275764
010 0 $a 978-986-00-7893-0 $b 平裝 $d NT$350
100 $a 20090528d2007 k a0chiy08 e
101 0 $a chi
102 $a tw
105 $a a z 000yy
200 1 $a 發明專利實體審查基準 $h (一) $i 國際法規與案例彙編 $d Guidelines for Substantive Examination of Invention Patent (1) $e Compilation International Regulations and Case Studies $z eng $f 張仁平，謝銘洋作 $g 國立臺灣大學科際整合法律學研究所編印
205 $a 初版
210 $a 臺北市 $d 2007[民96] $c 經濟部智慧財產局
215 0 $a [6], 306面 $c 圖 $d 21公分
225 1 $a 智慧財產培訓學院教材 $v 47
510 1 $a Guidelines for substantive examination of invention patent (1) $e Compilation international regulations and case studies $z eng
517 1 $a 國際法規與案例彙編 $z chi
606 $a 專利 $x 標準 $2 csh $3 429045
681 $a 440.61 $b 1121 $v 增訂八版
700 $a 張 $b 仁平 $4 作 $3 140344
702 $a 謝 $b 銘洋 $4 作 $3 236
712 $a 國立臺灣大學 $b 科際整合法律學研究所 $4 編印 $3 140345
801 0 $a tw $b NUK $c 20070814 $g CCR
801 1 $a tw $b NUK $c 20070814 $g CCR