• 發明專利實體審查基準 = Substantive examination guidelines for invention patent(二). 二
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: Substantive examination guidelines for invention patent(二)
    Author: 張仁平,
    Corporate Body: 國立臺灣大學
    Place of Publication: 臺北市
    Published: 經濟部智慧財產局;
    Year of Publication: 2007[民96]
    Edition: 二版
    Description: [8], 370面圖 : 21公分;
    Series: 智慧財產培訓學院教材8
    Subject: 專利 - 標準 -
    Notes: 參考書目:面[367]
    Notes: 含附錄
    [NT 15001349]: Guidelines for substantive examination of invention patent
    ISBN: 986-00-7693-6
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310001490336 東方語文圖書區(五樓) 1圖書 一般圖書 440.61 1121 v.2 2007 一般使用(Normal) On shelf 0
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