• 發明專利實體審查基準 = Substantive examination guidelines for invention patent(二). 二
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: Substantive examination guidelines for invention patent(二)
    作者: 張仁平,
    團體作者: 國立臺灣大學
    出版地: 臺北市
    出版者: 經濟部智慧財產局;
    出版年: 2007[民96]
    版本: 二版
    面頁冊數: [8], 370面圖 : 21公分;
    集叢名: 智慧財產培訓學院教材8
    標題: 專利 - 標準 -
    附註: 參考書目:面[367]
    附註: 含附錄
    其他題名: Guidelines for substantive examination of invention patent
    ISBN: 986-00-7693-6
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  • 1 筆 • 頁數 1 •
 
310001490336 東方語文圖書區(五樓) 1圖書 一般圖書 440.61 1121 v.2 2007 一般使用(Normal) 在架 0
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